本文参考GB/T 14849.4-2014《工业硅化学分析方法 第4部分：杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法》，采用湿法消解工业硅粉样品，利用岛津电感耦合等离子体发射光谱仪ICPE-9820测定了样品中杂质元素的含量。分析结果表明，各元素的方法检出限为0.004 mg/kg ~ 6 mg/kg；仪器精密度优良，RSD值小于1.30%（n=6）；样品加标回收率为96.0%~110%。该方法灵敏度高，精密度优良，适用于工业硅粉中杂质元素含量的测定。

鉴定药物中的痕量杂质对于保证其质量和安全十分重要。日本药典（JP）、欧洲药典（EP）和美国药典（USP）等官方文件中收载有药物中杂质的结构式，通常情况下，普遍采用HPLC-UV法进行杂质分析。而使用质谱仪，如LC/MS/MS，对检测出的杂质进行结构分析是一种非常有效的方法，逐渐受到关注。本报告将向您介绍利用四极杆飞行时间（Q-TOF）质谱仪LCMS-9030（图1）和分析软件LabSolutions Insight Explore，分析孟鲁司特钠中杂质结构的案例。孟鲁司特钠作为支气管哮喘和过敏性鼻炎的治疗药物，收载于第十七次修订的日本药典中。

本文使用岛津GCMS-QP2050气质联用仪，结合超声提取方式，建立了聚合物材料中6种紫外吸收剂含量的检测方法，并进行了方法学考察。结果表明，该方法前处理简单、各化合物线性及重复性结果良好，表明该方法适用于聚合物材料中紫外吸收剂的检测。