XPS（X 射线光电子能谱法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）作为一种表面分析方法，除了对材料表面上约10 nm 处存在的元素进行定性和定量分析外，还可以分析元素的化学结合状态。该方法因为用软X 射线照射样品，观测在物质内部产生的光电子，因此，被称为非破坏性分析。然而，一些物质可能因为被X 射线照射而受到损伤，表面化学状态会发生改变，进一步导致无法从受损的材料表面得到反映其本来状态的正确数据。因此，了解测试过程中样品受到的损伤非常重要。在这里，我们将为您介绍改变X 射线的照射功率，对同一试样进行测定，评估对试样所造成影响的事例。

在常规XPS分析中，不同的聚合物材料可能会出现测试得到的C 1s谱图相似，较难区分。等离子特征峰（如π-π*跃迁）虽然可提供与材料中的sp2碳杂化相关的信息，但也可能会被其他化学态的碳物种掩盖。本文采用AXIS SUPRA+仪器的X射线光电子能谱（XPS）、紫外光电子能谱（UPS）及反射电子能量损失谱（REELs）联用技术对不同聚合物材料进行了分析。

为了分析小鼠IgG抗体N-末端氨基酸序列，本文使用SDS-PAGE（十二烷基硫酸钠聚丙烯酰胺凝胶电泳）将小鼠IgG抗体的重链和轻链进行分离，使用电转印方法将SDS-PAGE膜上的样品转移到PPSQ使用的PVDF膜上，应用PPSQ分析IgG抗体轻链的氨基酸序列，其结果与理论序列结果一致，验证了此方法的准确性。