禁带宽度是半导体的一个重要特征参量，它直接影响半导体器件耐压和最高工作温度。本文使用岛津紫外可见分光光度计和积分球附件测试了二氧化钛（TiO2，锐钛矿）吸收光谱图，得到截止波长，根据公式计算得到该材料的禁带宽度。

为了更高效地开发HPLC的分析方法，实施方法条件考察时，首先筛查对保留和分离影响较大的参数-色谱柱（固定相）和流动相的种类。但是，在此过程中，为了从为数众多的流动相（缓冲液pH、盐浓度、有机溶剂比例等）和色谱柱（ODS、C8、Phenyl等）中找出适合的方法，实际上需要以各种不同的条件进行分析。更换色谱柱和配制不同的流动相等工作需要耗费大量的精力和时间。为实现方法开发过程的自动化，岛津开发了“Nexera™方法开发系统”和专用软件“Method Scouting Solution”，本文介绍了如何使用该系统来快速考察并确定多种小分子药

建立了测定0.1mm超薄铝箔样品多种元素的PDA直读光谱分析方法。通过对比试验，确定了氩气冲洗时间及氩气流量、激发光源选择、激发能量电压等各项分析条件，试验结果表明：该方法的准确度、短期精密度都能够达到预期效果，完全能够满足生产分析要求。