通过软件的荧光强度重叠校正功能扣除钠元素对氧元素的重叠干扰，以内部标准样品建立元素校准曲线，以元素质量分数根据相应公式计算电解质分子比。对分子比的测定精度进行了考察，分析结果符合行业标准YS/T 739-2010《铝电解质分子比及主要成分的测定 X 射线荧光光谱法》，测定结果可用于指导生产。

电子仪器和IC 芯片的接触部分多会使用金（Au）、镍（Ni）、铜（Cu）的3 层电镀。通过荧光X 射线分析，能够非破坏性地测定上述电镀的附着量（膜厚）。本文将为大家介绍不使用标准样品，使用薄膜 FP 法（基本参数法）对Au、Ni、Cu 的各镀膜进行简便定量分析的实例。

使用岛津能量色散型X射线荧光光谱仪(EDX)对绿松石中的钾钙比进行了测试,结合显微镜下的观察,可显著提高异常绿松石的检出效率。