本文介绍了一个运用SMX-6000微焦点X射线检查装置的X射线透视及CT对碳化硅MOSFET的实例观察。针对碳化硅MOSFET进行透视，观察发现内部碳化硅晶片和铜基体的焊料部分有白色气泡。侧立时发现是使用铝线和碳化硅晶片进行连接。针对透视图中碳化硅晶片焊接部分使用CT扫描，能够清晰观察出内部气泡，并进行测量。

关于金属材料拉伸试验，2009年修订国际标准ISO 6892时，以及2011年修订日本工业标准JIS Z2241时，除了应力速率控制作为将材料加载到屈服点的方法之外，还增加了应变率控制方法（用引伸计测量应变）作为试验项目。伴随着这些变化，对通过应变速率控制进行金属材料拉伸试验的要求也越来越高。在进行应变率控制时，需要使用高精度的引伸计。SIE-560SA型自动引伸计可以高精度、大范围地检测金属等硬质材料以及塑料等软质材料的伸长量。且可以检测从拉伸试验开始至断裂的整个过程的伸长量，并可以自动完成引伸计夹持臂在试样上的夹持与分离，自动设置标距。

本文使用岛津HIC-SP离子色谱仪建立了离子色谱法测定考古样品残留物中F-、Cl-、NO2-、Br-、NO3-、PO43-、SO42-七种阴离子的方法。七种阴离子在0.05~15 mg/L的浓度范围内标准曲线的线性相关系数R均高于0.99。七种浓度为0.5 mg/L的阴离子平行分析6次，保留时间RSD范围为0.13%~0.29%，峰面积RSD范围为0.08%~1.67%，重复性良好。七种阴离子的检出限为0.0004~0.0221 mg/L，定量限为0.0014~0.0737 mg/L，灵敏度良好。考古样品残留物添加0. 25和2 mg/L七种阴离子，回收率为86.9%～112.6%，结果表明方