在进行医药品的杂质分析时，除了检测高浓度的主要成分以外，还需要检测医药品中存在的微量杂质。因此要求检测器必须具备宽线性范围。对微量杂质进行高精度定量分析，需要使用高S/N（信噪比）。通常，通过增加样品浓度与进样量提高S/N。但是，增加样品浓度后，主要成分的溶解度可能发生改变，或经加热溶解而分解成分；增加进样量后，因样品溶剂的影响，峰可能变形。因此，为了通过适当的样品浓度和进样量来检测微量杂质，检测器必须具备高灵敏度。本文为您介绍使用新型光电二极管阵列检测器SPD-M30A 和选配件高敏感度检测池（光程长为85mm）进行杂质分析，并测定其灵敏度和线性的示例。

在常规XPS分析中，不同的聚合物材料可能会出现测试得到的C 1s谱图相似，较难区分。等离子特征峰（如π-π*跃迁）虽然可提供与材料中的sp2碳杂化相关的信息，但也可能会被其他化学态的碳物种掩盖。本文采用AXIS SUPRA+仪器的X射线光电子能谱（XPS）、紫外光电子能谱（UPS）及反射电子能量损失谱（REELs）联用技术对不同聚合物材料进行了分析。

本应用建立了刺五加果中异嗪皮啶含量测定的方法。通过ATLAS-LEXT NHD自动前处理装置对刺五加果样品进行处理，在优化后的色谱及质谱条件下，采用正离子模式扫描，通过多反应监测（MRM）模式对目标化合物进行测定。结果表明：异嗪皮啶在1~500 ng/mL浓度范围内线性良好，所得校准曲线相关系数在0.9997以上，各校准点准确度在98.23%~103.29%之间，加标回收率在94.6~98.1%之间。