电子元器件的失效及潜在的缺陷直接关系到电子产品的可靠性。本文使用岛津电子探针EPMA对电子元器件的铜合金部件不同位置处的肉眼可见变色异常失效进行了解析。结果显示部件表面不同的晶粒度和粗糙度以及腐蚀斑块和刮擦条痕导致局部出现明显的色差。这些局部的变色异常将会导致电子元器件出现导电不良甚至开路的失效问题。相对于常见的扫描电镜SEM+能谱仪EDS，微区分析仪器EPMA对于分析轻元素和微量元素具有更高的灵敏度，对于确认腐蚀介质和污染源能提供更准确的判断依据。

本文建立了一种使用岛津超高效液相色谱仪和三重四极杆质谱仪联用测定邻苯二甲酸酯的方法。样品经处理后，用超高效液相色谱LC-30A快速分离，三重四极杆质谱仪LCMS-8030进行定量分析。使用内标法在10～500 μg/L浓度范围内绘制16种邻苯二甲酸酯的校准曲线，线性良好，相关系数为0.999以上；对20 μg/L、50 μg/L、100 μg/L标准溶液进行精密度实验，连续6次进样保留时间和峰面积相对标准偏差分别在1.04 %和4.15 %以下，系统精密度良好。

本文介绍了一个运用Xslicer SMX-6000微焦点X射线检查装置的X射线透视和CT 功能，对BGA芯片进行的实例观察。针对CPU透视放大后金线邦定现象进行检测。