本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定工业硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各组分精度良好。方法适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足工业硅生产对杂质成分的检测需求。

随着工业固废的回收利用，需要首先对工业固废的成分进行简单快速分析及RoHS有害元素的含有量的分析确认，才能快速确定工业固废的回收价值及回收工艺。该方法利用能量色散型X射线荧光光谱仪的快速无损分析的优点，可以第一时间对工业固废的成分及有害元素的含有量进行初步分析，操作简捷，结果可靠，能够得到满意的分析结果。

本文介绍运用inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus微焦点X射线CT系统观察铝电解电容器的内部结构。使用MPR图显示三视图，通过VG软件处理三视图及立体效果图。观察内部孔隙、杂质和测量极差尺寸。