Rietveld 方法是一种晶体结构分析法，根据粉末X 射线的衍射图谱，不仅能够分析单组分样品，还能对多组分样品的晶体结构进行分析。此外，因为无需使用标准曲线便可进行定量分析，应用Rietveld 方法的各种类型的分析软件被用于研究和开发以及制造过程。Match!3 软件（Crystal Impact GbR）通过比较样品的X射线衍射图谱与数据库的图谱，来进行结构成分的确定（物相鉴定）。并且，能够通过与Rietveld 分析软件的FullProf（JuanRodriguez- Carajal、Laboratoire. Léon Brillouin）协同使用来进行晶体的结构分析和定

参考农业行业标准《NY/T 1121.14-2023土壤检测 第14部分：土壤有效硫的测定》，采用岛津ICPE-9820型电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）测定了土壤中有效态硫（S）的含量。分析结果显示，土壤质控样品测定值符合理论值，样品6次测定精密度RSD小于2%。该方法灵敏度高，精确度好，抗干扰能力强，分析速度快，适用于土壤“三普”样品有效态硫的批量分析。

本文利用岛津GCMS-QP2020 NX气质联用仪，结合负化学电离源（NCI），建立了皮革中短链氯化石蜡的检测方法。在0~50 mg/L 浓度范围内，短链氯化石蜡相关系数为0.9996；取浓度为5 mg/L的标准溶液连续进样6次，峰面积的相对标准偏差均小于6 %，精密度良好。本方法操作简单，分析速度快，适用于皮革中短链氯化石蜡的检测。