使用岛津激光粒度仪SALD-2300湿法测试碳化硅粉体的粒径大小和分布，为了解碳化硅粉体的粒度信息提供参考。本法使用纯水为分散介质，在搅拌和超声条件下进行测试，样品消耗量少，分析速度快，数据稳定且重复性好，满足碳化硅样品的粒度测试要求。

近年来，在质量控制和研发方面，获得物质外表面的信息的需求不断增加，表面分析的重要性与日俱增。表面分析的方法有很多种，各种方法可分析的元素和分析深度存在差异，需要根据测定对象选择合适的方法。XPS（X射线光电子能谱分析法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）是一种测量固体表面受到软X射线照射时发射的光电子能量的表面分析方法，可进行物质表面元素的定性和定量分析、化学键状态分析。XPS的分析深度为自表面10nm左右，可以获得物质外表面的化学状态信息。本报告中为您介绍使用XPS分析光学晶体上薄膜键合状态的案例。同时，为您介绍不同的分析方法所带来的元素定性、定量结果的差异。

本文介绍了一种气相色谱-三重四极杆质谱法（GC-MS/MS）测定茶叶中5种禁用香精成分含量的分析方法。茶叶样品经乙酸乙酯萃取，涡旋振荡，离心后上清液经QuEChERS净化处理，涡旋，离心后过膜，采用多反应监测模式（MRM）进行检测。结果表明，5种禁用香精成分在1~200 μg/L线性范围内线性关系良好，标准曲线相关系数均大于0.999，检出限在0.003~0.243 μg/L。取校准曲线最低浓度点的标准品溶液连续进样6针，峰面积RSD均小于5 %。实际样品在含量为0.15 mg/kg的加标水平下，各组分的基质加标回收率为88.3~99.9 %。该方法简单方便，能够快速有效的监测茶叶