近年来，在质量控制和研发方面，获得物质外表面的信息的需求不断增加，表面分析的重要性与日俱增。表面分析的方法有很多种，各种方法可分析的元素和分析深度存在差异，需要根据测定对象选择合适的方法。XPS（X射线光电子能谱分析法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）是一种测量固体表面受到软X射线照射时发射的光电子能量的表面分析方法，可进行物质表面元素的定性和定量分析、化学键状态分析。XPS的分析深度为自表面10nm左右，可以获得物质外表面的化学状态信息。本报告中为您介绍使用XPS分析光学晶体上薄膜键合状态的案例。同时，为您介绍不同的分析方法所带来的元素定性、定量结果的差异。

本文建立了一种全在线监测环境空气中108种污染物的方法。使用双冷阱热解析仪进行样品采样，确保空气样品不间断的采集，结合岛津中心切割技术：将轻烃切割至Plot柱在FID检测器进行分析，其他组分在聚硅氧烷柱分离后进入MS检测器分析；结果显示：所有化合物在1ng/ml的浓度下，峰面积RSD%均小于10.72，在1~20ng/ml的浓度范围内线性相关系数均大于0.9950。本方案重现性好，分析时间短，可连续在线监测环境空气中VOCs变化情况。

本文参考GA/T 1941-2021 《法庭科学重质矿物油检验 气相色谱-质谱法》标准相关要求，利用岛津气质联用仪GCMS-QP2020 NX，建立了法庭科学中重质矿物油的测定方法。检材及样品用正己烷溶解稀释后，经GCMS检测，以保留时间、质谱特征离子和丰度比作为定性判断依据，通过对峰范围、形状分布和组分差异进行综合对比，以判断检材与样品中是否含有重质矿物油的结果评价。