二氧化硅被广泛应用于半导体等电子部件的密封材料以及涂料填料等各种领域。如果在二氧化硅中包含异常的粗颗粒（异物或凝聚物），电子零部件会发生成形不良、绝缘不良、电气性能不良，而涂料会发生涂膜强度下降、涂敷不均等现象。评价二氧化硅的尺寸主要使用激光衍射式粒度分布测定装置（以下简称LD）和扫描电子显微镜（以下简称SEM）等。但是上述设备在测试过程中也存在一些问题，例如LD检测微量粗颗粒灵敏度较低，SEM的观察视野狭窄，导致检测时间过长，无法确保足够的测量数量，而且无法获得浓度信息等等。与之相比，动态图像分析方法可以在短时间内定量获得大量的颗粒图像，因此，适用于快速进行微量粗颗粒检测和浓度评价。动态颗粒

本文参考《GB/T 24533-2019 锂离子电池石墨类负极材料》中附录K磁性物质的测定方法，使用岛津ICPE-9820型电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）建立了测定锂离子电池石墨负极材料中磁性物质含量的方法。实验结果表明，该方法标准曲线线性良好（r＞0.9999），灵敏度高，方法检出限为0.09~0.3 μg/kg之间，测定结果准确，加标回收率在95.0%~97.0%之间，重复性良好（RSD<2.20%，n=6），适用于锂离子电池不同类型石墨负极材料中磁性物质含量的测试。

在沙坦类抗高血压药物中检测到叠氮杂质——叠氮甲基联苯四唑（AZBT），它是一种致突变杂质。因此，欧洲药品管理局（EMA）、英国药品与保健品管理局（MHRA）和加拿大卫生部等监管机构要求进行了药品召回。韩国食品和药品安全部（MFDS）相应发布了测定沙坦原料药中AZBT的LC-MS/MS方法作为测定指南，努力确保药品安全。 叠氮杂质可以在含有四唑环的沙坦原料药（API）的合成过程中形成。在沙坦中，四唑环通过适当的腈和叠氮基之间的反应形成，这可能同时产生作为副产物的痕量叠氮杂质。除了国内管制成分AZBT之外，还有各种类型的叠氮杂质。因此，本应用报告旨在介绍对厄贝沙坦原料药中4