近年来，在质量控制和研发方面，获得物质外表面的信息的需求不断增加，表面分析的重要性与日俱增。表面分析的方法有很多种，各种方法可分析的元素和分析深度存在差异，需要根据测定对象选择合适的方法。XPS（X射线光电子能谱分析法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）是一种测量固体表面受到软X射线照射时发射的光电子能量的表面分析方法，可进行物质表面元素的定性和定量分析、化学键状态分析。XPS的分析深度为自表面10nm左右，可以获得物质外表面的化学状态信息。本报告中为您介绍使用XPS分析光学晶体上薄膜键合状态的案例。同时，为您介绍不同的分析方法所带来的元素定性、定量结果的差异。

本文参考《GB/T 33351.2-2021 电子电气产品中砷、铍、锑的测定 --第2部分 电感耦合等离子体发射光谱法》，使用岛津ICPE-9820型电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）建立了测定电子电气聚合物材料塑料中砷、铍、锑含量的方法。实验结果表明，该方法标准曲线线性良好（r＞0.9998），测定结果准确，加标回收率在97.0~101.8%之间，重复性良好（RSD<2.93%，n=3），适用于电子电气聚合物材料中砷、铍、锑元素含量的测定。

本文建立了气相色谱仪检测供药用和药用辅料的脂类物质中脂肪酸组成的分析方法。分析结果表明：仪器性能良好，理论塔板数和分离度等参数可满足2020版药典《0713 脂肪与脂肪油测定法》中脂肪酸组成测定部分对于系统适用性的要求。脂肪酸甲酯混合溶液重复进样6次，各组分保留时间相对标准偏差小于0.1%，峰面积相对标准偏差小于5%，重复性良好，可依据此方法进行脂肪酸组成的分析。