X射线光电子能谱（XPS）是一种在距离对样品表面约10 nm的深度范围内，进行元素定性、定量以及分析化学结合状态的表面分析方法。XPS是一种有效的材料表面分析方法，广泛应用于半导体和电池材料等材料的研发领域。另一方面，由于XPS无法检测出氢，因此需要分析表面上的羟基时，仅使用XPS可能难以完成评价。例如，表面的羟基对硅晶圆镜面之间的键合会产生很大影响1)。由于XPS难以明确判别硅的氧化物和氢氧化物，因此同时使用其他科可评价氢含量的表面分析方法，从多角度评价样品可以说是很重要的。 反射式电子能量损失谱（REELS）作为一种可分析化学状态和电子结构的表面分析方法而备受瞩目。其可以实现XPS难以检测

医疗器械一般采用环氧乙烷气体（EOG）灭菌。国际标准化组织的ISO 10993-7:2008和基于ISO制定的日本工业标准的JIS T 0993-7:2012规定了EOG灭菌后医疗器械中残留的环氧乙烷（EO）浓度。标准中包含模拟萃取和极限萃取两种方法，极限萃取法使用溶剂萃取顶空进样（HS）气相色谱法。萃取溶剂需要根据样品及其使用目的来选择，但使用水作为萃取溶剂进行分析是一种很环保的分析方式，其越来越受到关注。本文介绍参考JIS T 0993-7:2012的“K.4.4基于乙醇的极限萃取以及乙醇萃取液的顶空进样气体分析”，以水作为萃取溶剂萃取残留EO的结果。

储氢镍合金合金样品经稀酸溶解后直接用电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)测定其中镧、铈、钐、钕等多种杂质元素含量。本方法简便、快速，可满足工业快速分析、质量控制要求。本方法回收率在97.3%-105.5%范围内，相对标准偏差