本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定多晶硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各杂质组分分析精度良好。方法适用于多晶硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足多晶硅生产对杂质成分的检测需求。

本文介绍了一个运用inspeXio SMX-100CT 观察药物颗粒填充胶囊的实例观察。针对药物颗粒填充胶囊CT 扫描，得出了胶囊的 CT 横截面图像及3D立体图像。通过放大扫描，发现胶囊内部是由两种不同类型的颗粒组成。再把两种不同类型的颗粒取出通过 CT 详细观察，可看到颗粒1由低密度药剂、单独颗粒和高密度药剂组成，颗粒2由高密度药剂和低密度颗粒组成，并且在颗粒1和颗粒2中内部都发现了孔隙。

2020年11月1日开始实施的国家标准《塑料材料中镉、铅、六价铬、汞限量》（GB/T 38295-2019 ），针对婴幼儿用品塑料材料、食品及医用接触塑料材料、电子电气、汽车、家具用品塑料材料和一般塑料用品中镉(Cd)、铅（Pb）、汞（Hg）及六价铬（Cr6+）的浓度值进行了一定的限量要求。岛津EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光光谱仪能够方便快捷地对这些塑料材料中镉(Cd)、铅（Pb）、汞（Hg）及总铬（TCr）进行快速无损的筛选分析，无需化学前处理。