MALDI-TOF，全称基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱，作为一项重要的检测技术，在多个研究领域发挥着关键作用。其原理独具特色，样品分子与基质分子形成共结晶薄膜，当受到激光照射时，基质吸收能量并传递给样品分子，使其瞬间气化并离子化，随后进入飞行时间质量分析器，依据质荷比进行检测。20世纪80年代，岛津的资深工程师田中耕一开发出适合生物大分子检测的基质，使得MALDI-TOF质谱法能够成功检测生物大分子的分子量。正因如此，田中耕一与电喷雾电离法的发明人John Fenn共同荣获 2002年诺贝尔化学奖，以表彰他们“开发用于生物大分子质谱分析的软解吸电离方法”。 当今广泛应

药品中杂质元素的存在受到广泛关注，不仅是因为某些污染物存在毒性，而且还因为它们可能对药品的稳定性、保质期产生不利影响，或引发有害的毒副作用。因此必须对药品生产所用的原材料、中间体、催化剂以及最终药物产品中的杂质进行检测。

本文介绍了采用X射线荧光光谱法测定以TiO2为主要基体的金红石等矿物的分析方法。以氧化钛为主体配以其他矿物标样，采用玻璃熔片法，合成配制出一系列标准样品，制作多元素工作曲线。玻璃熔片法消除和减小了矿物结构、样品粒度等对分析结果的影响，可以采用配制标样的方法获得系列标准样品，方法不受实物标准样品限制，并且可用于分析元素含量在工作曲线范围内的不同类别的矿物。