GaAs等半导体材料受到了越来越多的关注，XPS技术在半导体材料分析上有着重要的应用。本文分析了高能Ag Lα光源在分析氮掺杂GaAs类材料上的优势，此外还介绍了其相对于其他高能光源的优势和可以增加采样深度的优点。

本文利用岛津GCMS-TQ8040 NX气质联用仪，建立了食品中丙烯酰胺含量的测定方法。样品用超纯水萃取，提取液净化后用溴试剂进行衍生，采用MRM模式进行检测。在10~1000 μg/L浓度范围内，丙烯酰胺衍生物线性相关系数在0.999以上，检出限为0.05 μg/L。取浓度为10 μg/L衍生后的标准溶液，连续进样6次，峰面积的相对标准偏差小于5%。在4 μg/kg的实际样品加标水平下，丙烯酰胺的加标回收率为87.0%。本方法参考标准GB 5009.204-2014，定量数据准确可靠，可为食品中丙烯酰胺含量的测定提供参考。

目前，液质联用仪离子化接口技术最常用的有电喷雾电离源(ESI)与大气压化学电离源(APCI)，其中ESI离子化方式应用更为广泛。然而，进入21世纪，现代科学技术的发展对分析检测技术提出了新的挑战。与经典的化学分析方法和传统的仪器分析方法不同，现代分析科学中，原位、在线、实时、非破坏、高通量、高灵敏度、高选择性、低耗损成为是分析工作者追求的目标。敞开式质谱也成为液质联用技术中新的技术名词。此类质谱在液质联用仪中使用常压敞开式离子源质谱技术（Ambient Mass Spectrometry，AMS)取代常规的ESI或APCI离子源，去除液相部分，可在大气压下直接对未处理或简单预处理的样品进行解析