二氧化硅被广泛应用于半导体等电子部件的密封材料以及涂料填料等各种领域。如果在二氧化硅中包含异常的粗颗粒（异物或凝聚物），电子零部件会发生成形不良、绝缘不良、电气性能不良，而涂料会发生涂膜强度下降、涂敷不均等现象。评价二氧化硅的尺寸主要使用激光衍射式粒度分布测定装置（以下简称LD）和扫描电子显微镜（以下简称SEM）等。但是上述设备在测试过程中也存在一些问题，例如LD检测微量粗颗粒灵敏度较低，SEM的观察视野狭窄，导致检测时间过长，无法确保足够的测量数量，而且无法获得浓度信息等等。与之相比，动态图像分析方法可以在短时间内定量获得大量的颗粒图像，因此，适用于快速进行微量粗颗粒检测和浓度评价。动态颗粒

本文采用岛津公司GCMS-TQ8040三重四极杆串级气相色谱质谱仪，结合岛津农残数据库Smart Pesticides Database，在无需标准品的情况下，建立GC-MS/MS法同时筛查蔬菜中246种农药残留的方法。蔬菜空白基质用醋酸/乙腈提取后，用QuEChERS样品前处理，添加12种待筛查的农药混标，采用Smart MRM的方法对多种农药残留进行灵敏度和重现性考察。在5 ?g/L浓度时，12种目标农药均能被筛查出，且组分响应信号高，信噪比为11.70~353.65。在5 ?g/L ~ 100 ?g/L范围内，12种农药基质标准溶液的峰面积与其浓度呈良好的线性关系。方法检出限在1.5~2

氮化硅作为一种重要的陶瓷材料，凭借其卓越的物理与化学特性，在广泛的工业制造及日常生活中占据着独一无二的地位。氮化硅粉末作为制造各类氮化硅制品的基础原料，其品质直接关乎最终产品的性能表现，其中粒度是衡量其质量的关键指标之一。本报告采用配备了多功能流通池的激光粒度分析仪SALD-2300，选用纯水作为分散媒介，对不同种类氮化硅粉末的粒度进行测定，此方法为科学评估氮化硅粉末的质量等级及优化生产流程提供了可靠的技术支撑。