本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪，采用玻璃熔片法制样，建立了测定工业硅生产用碳质材料中杂质元素的方法。碳质材料经灼烧除碳，杂质元素会富集至灰分中，称量一定量的灰分与专用熔剂按一定比例混合，高温熔融制备成玻璃片，用X荧光光谱仪进行测定。碳质材料的灰分与粘土化学成分类似，以粘土标样为基础建立工作曲线，工作曲线线性良好，相关系数r在0.9999以上，此方法可以准确测定碳质材料杂质元素化学成分，满足工业硅生产对碳质材料杂质成分的检测要求。

受限于磷酸铁锰锂的橄榄石结构，锂离子只能沿一维扩散通道传输，致使离子扩散率较低，是该材料的一大缺陷。纳米化是提高该材料电化学性能的有效手段。本文利用岛津场发射型电子探针对某磷酸铁锰锂正极材料的二次颗粒微观形貌及尺寸进行了直观观察，利用岛津X射线衍射仪进行了物相分析，采用Rietveld精修获得了平均晶粒尺寸。结果表明，该样品是由高结晶度的纳米晶（一次颗粒）组成的具有多孔的微米球形貌；该结构可缩短离子在电极材料中迁移路径，同时还可兼顾高的振实密度，具有良好的综合电性能。

从矿床中开采出来的铜矿石，其铜含量约为1%，通过破碎和磨矿等称为选矿的工序精炼为品位约为20%至40%的铜精矿。在冶炼厂提炼铜精矿，即可将铜的品位提高到近99%。铜矿石除了含铜矿物外，还含有各种矿物质。尽管可以利用EDX对元素定性定量，但无法识别其化合物形态或鉴定矿物。通过结合EDX元素信息并检索X射线衍射数据库，可以鉴定出铜矿石和经过选矿后的残渣中所含的矿物，并获得有用的信息，以用于下一道工序。此外，利用X射线衍射得到的化合物状态信息，可以使EDX的定性定量结果更加准确。