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ICP-AES法测定高纯铬中有害杂质元素
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ICP-AES法测定高纯铬中有害杂质元素
2017.08.29
类型: 应用报告
浏览:489
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使用高分辨率高灵敏度的岛津顺序扫描型高频等离子发射光谱仪(ICPS-8100),选择适当的分析线,采用轴向观测方式,对高纯铬中μg/g级的有害元素As, Sn, Sb, Pb, Bi进行直接同时测定,得到满意的分析结果。
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