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ICP-AES法测定高纯铜中多种杂质元素
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ICP-AES法测定高纯铜中多种杂质元素
2017.08.29
类型: 应用报告
浏览:330
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用电感耦合等离子发射光谱法(ICP-AES)同时测定了高纯铜中的多种杂质元素P, Mn, Fe, Ni, Zn, As, Se, Ag, Cd, Sn, Sb。优化仪器的工作条件,以基体匹配法配制工作曲线标样,有效地消除了基体干扰。方法简便、可满足工业分析要求。检出限为0.000004-0.0001%,回收率在85.9-105%范围内。
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