镜面反射测定装置是紫外可见分光光度计的一个重要附件，对半导体、光学材料、多层膜的评价多采用镜面反射附件。

本文介绍了一个运用Xslicer SMX-6000微焦点X射线检查装置的X射线透视和CT 功能，对BGA芯片进行的实例观察。针对CPU透视放大后金线邦定现象进行检测。

本文建立了岛津三重四极杆质谱仪LCMS-8040测定大豆中咪唑啉酮类除草剂残留量的分析方法。大豆基质经二氯甲烷提取后，阳离子SPE柱净化后，超高效液相色谱LC-30A进行梯度洗脱分离，用多反应监测串极质谱进行定性分析，采用外标法建立定量方法。5种咪唑啉酮类除草剂在2 ~ 200 ?g/L 浓度范围内线性良好，相关系数在0.9992~0.9999之间。对低中高不同浓度的混合标准溶液连续6次进样进行精密度实验，5种咪唑啉酮的保留时间和峰面积相对标准偏差分别在0.061%~0.736%和0.73%~4.02%之间，仪器精密度良好，检出限范围为0.04-0.08 ?g/kg。考察大豆样品分析及加标实验