采用偏硼酸锂碱熔-ICP-AES法测定了地矿标准物质中的11种常量元素的含量。实验结果表明，该方法线性相关系数良好(r>0.999)，精密度高RSD

为了向客户稳定提供高质量产品，对制造商而言，使用安全优质的原材料是不可或缺的前提条件。然而，为了降低成本或难以达到各种指令的要求时，部分供应商会擅自替换材料。我们将这一商业行为称为“偷换材料”。使用了不符合规格的原材料制造的产品，不仅无法保证质量，有时还会引起事故，目前该问题已成为一个不容忽视的社会问题。针对这一情况，制造商在接收原材料时，需要对实际的材料进行检查，以确认是否符合规格要求，从而防止因产品质量引发的各种纠纷。本文向您介绍使用岛津能量色散型X射线荧光光谱仪EDX以及红外分光光度计FTIR，对偷换材料样品进行分析的示例。

通过XPS可以了解材料表面10nm厚度的元素化学态信息，而通过ARXPS可以将分析深度进一步降低到1~3nm。但是ARXPS数据的解析是困难的，本文说明了如何通过MEM软件来对ARXPS数据进行重构得到深度剖析曲线。同时通过Minibeam VI团簇离子枪对表面污染进行去除，研究了表面污染对MEM结果的影响。