X射线光电子能谱（XPS）是一种在距离对样品表面约10 nm的深度范围内，进行元素定性、定量以及分析化学结合状态的表面分析方法。XPS是一种有效的材料表面分析方法，广泛应用于半导体和电池材料等材料的研发领域。另一方面，由于XPS无法检测出氢，因此需要分析表面上的羟基时，仅使用XPS可能难以完成评价。例如，表面的羟基对硅晶圆镜面之间的键合会产生很大影响1)。由于XPS难以明确判别硅的氧化物和氢氧化物，因此同时使用其他科可评价氢含量的表面分析方法，从多角度评价样品可以说是很重要的。 反射式电子能量损失谱（REELS）作为一种可分析化学状态和电子结构的表面分析方法而备受瞩目。其可以实现XPS难以检测

塑性应变比（r值）作为体现板料成形性能的主要参数, 它反映金属薄板在某平面内承受拉力或压力时，抵抗变薄或变厚的能力。本报告以《GB T 5027-2016 金属材料 薄板和薄带 塑性应变比(r 值)的测定》为标准基础，使用岛津AGX-V 100kN电子万能试验机配合TrV视频引伸计对金属薄板r值进行测试。

除违禁药物外，卡痛或卡痛叶（Mitragyna speciosa）的滥用尤其受到了极大的关注。卡痛叶（Mitragyna speciosa）最初被当地社区用作抗疲劳和补充能量的传统药物。然而，它的主要活性生物碱是帽柱木碱，其具有鸦片性质和类似兴奋剂的作用。已经有许多因饮用卡痛叶饮品而出现海洛因/阿片类药物戒断症状的患者病例。在大多数东盟国家，卡痛叶（图1A）仍然受到《毒物法》的管制，因此被归类为管制物质。目前，美国和东盟国家已经报道了将卡痛叶列入违禁药物的谈话。违禁药物和管制物质常常以各种形式存在，并混入复杂基质中，以掩盖其存在。这使得当局不得不考虑更先进、多用途和快速的检测解决方案。