本文利用岛津公司GC-2010 Plus气相色谱仪，结合全新开发的通用型BID-2010 Plus检测器，10min内完成扩充炼厂气C1-C13的分析。采用四阀七柱系统，Rt-Q PLOT 和Rt-MS-5A毛细管柱分析永久性气体，BID-2010 Plus进行检测；Rt-Al2O3分析有机烃类C1-C5,C6+，FID1检测；Rtx-1 分析烃类C6-C13，FID2检测。该系统峰面积重复性良好，RSD小于1%，检出限低，硫化氢及其他组分LOD小于10ppm，适合扩充炼厂气的快速分析。本系统包含岛津热值软件。

X射线光电子能谱（XPS）是一种在距离对样品表面约10 nm的深度范围内，进行元素定性、定量以及分析化学结合状态的表面分析方法。XPS是一种有效的材料表面分析方法，广泛应用于半导体和电池材料等材料的研发领域。另一方面，由于XPS无法检测出氢，因此需要分析表面上的羟基时，仅使用XPS可能难以完成评价。例如，表面的羟基对硅晶圆镜面之间的键合会产生很大影响1)。由于XPS难以明确判别硅的氧化物和氢氧化物，因此同时使用其他科可评价氢含量的表面分析方法，从多角度评价样品可以说是很重要的。 反射式电子能量损失谱（REELS）作为一种可分析化学状态和电子结构的表面分析方法而备受瞩目。其可以实现XPS难以检测

近几年，岛津在TOF单元上开发了诸多新技术，如UF-grating高场离子提取技术可有效聚焦离子，减少离子折返时间及损失;UF-FlightTube精准温控飞行管，可抑制由于外部因素(如实验室温度变化)而导致的质量数变化。UFMS(Ultra-Fast Mass Spectrum)架构获得的速度和灵敏度与全新的专利技术完美结合，可最大限度地提高质量准确度和分辨率。