本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪，采用玻璃熔片法制样，建立了测定工业硅生产用碳质材料中杂质元素的方法。碳质材料经灼烧除碳，杂质元素会富集至灰分中，称量一定量的灰分与专用熔剂按一定比例混合，高温熔融制备成玻璃片，用X荧光光谱仪进行测定。碳质材料的灰分与粘土化学成分类似，以粘土标样为基础建立工作曲线，工作曲线线性良好，相关系数r在0.9999以上，此方法可以准确测定碳质材料杂质元素化学成分，满足工业硅生产对碳质材料杂质成分的检测要求。

本实验使用溶剂超声萃取，利用岛津气质联用仪GCMS-QP2020 NX，建立了电子电气产品中多溴联苯、多溴联苯醚及4种邻苯二甲酸酯同时检测的方法。24种化合物在0.05~4.0 μg/mL浓度范围内，相关系数均在0.995以上。连续6次进样，各组分峰面积RSD%均小于7%。基质加标回收率在72.0~119.2%之间，均能满足定量分析检测的要求。

呋喃和烷基呋喃化合物常见于多种食品中，包括咖啡。它们是挥发性有机化合物，能增添香气。然而，各国近期研究均报告这些化合物存在健康隐患，欧盟建议对呋喃及烷基呋喃进行监测1）。 这些化合物常采用HS-GC/MS方法进行测量，该方法在浓度较高时既便捷又高效。然而，对于低浓度样品，需进行浓缩预处理。这篇应用报告文章介绍了一种使用SPME-Arrow和GC-MS/MS系统的方法，即使在复杂基质样品中微量浓度下也能实现更稳定的分析。