随着EDX荧光仪器的分辨率和灵敏度的大幅提高，以及快速无损分析及操作简单的优势，EDX荧光光谱仪越来越多地用于地矿中的元素分析。

本文使用岛津公司AGS-X电子万能试验机，塑料三点弯曲夹具，挠度测量装置。根据ISO 178-2010，JIS K 7171-2016塑料三点弯曲测试标准要求，采用十字头（衡梁）位移速度的控制方法进行塑料三点弯曲试验。试验证明，岛津公司AGS-X 可满足试验标准的各项指标要求，塑料三点弯曲夹具具有跨距可调，操作简单等特点，挠度测量装置可保证试样在测试中挠度的精确测量。

本文介绍运用inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus微焦点X射线CT系统观察碳化硅材料的内部结构。扫描碳化硅材料后通过岛津公司独有软件MPR立即显示CT截面图，观察内部孔隙缺陷及杂质缺陷。通过VG软件计算碳化硅材料的孔隙率和杂质率，呈现立体效果图。