用电感耦合等离子发射光谱法（ICP-AES）同时测定了高纯铜中的多种杂质元素P, Mn, Fe, Ni, Zn, As, Se, Ag, Cd, Sn, Sb。优化仪器的工作条件，以基体匹配法配制工作曲线标样，有效地消除了基体干扰。方法简便、可满足工业分析要求。检出限为0.000004-0.0001%，回收率在85.9-105%范围内。

本文参考美国药典USP对原料药品中无机杂质元素的限量要求及USP对杂质元素的测定方法，采用有机溶剂二甲基亚砜（DMSO）直接溶解原料药样品，利用全谱型电感耦合等离子体光谱 (ICP-AES)测定了原料药品中的重金属元素和其它无机杂质元素的含量。实验结果表明各元素的相关系数 r＞0.9996，加标回收率在93.8%～106%之间，RSD小于6%。该方法前处理操作简单，无需酸消解，可快速测定原料药品中的无机杂质元素。

使用岛津电子探针显微分析仪EPMA-1720对某类DLC（diamond-like carbon，类金刚石）膜的表面缺陷进行了观察、元素测试及元素面分布特征分析。确认了缺陷中元素的种类和含量、元素在缺陷位置的分布特点，讨论了表面上尺寸大小不等的微观点状缺陷可能会带来的工程材料失效问题。