近年来，在质量控制和研发方面，获得物质外表面的信息的需求不断增加，表面分析的重要性与日俱增。表面分析的方法有很多种，各种方法可分析的元素和分析深度存在差异，需要根据测定对象选择合适的方法。XPS（X射线光电子能谱分析法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）是一种测量固体表面受到软X射线照射时发射的光电子能量的表面分析方法，可进行物质表面元素的定性和定量分析、化学键状态分析。XPS的分析深度为自表面10nm左右，可以获得物质外表面的化学状态信息。本报告中为您介绍使用XPS分析光学晶体上薄膜键合状态的案例。同时，为您介绍不同的分析方法所带来的元素定性、定量结果的差异。

建立了以氯仿/正己烷(11)为萃取剂，超声萃取塑料电子电器样品中四溴双酚A的气相色谱-质谱联用快速检测方法，方法操作简单，实用性强。

本文使用岛津三重四极杆液质联用系统建立了一种测定水产品中的四聚乙醛含量的方法。样品经提取、净化后进样，目标化合物在0.1~5 µg/L浓度范围内均具有良好的线性关系，线性相关系数＞0.998，检出限为0.006 µg/L，定量限为0.018 µg/L。选0.25、2.5 µg/L两个浓度水平标准工作液，连续6次进样，保留时间和峰面积的相对标准偏差分别在0.071~0.291%和2.293~4.134%之间，系统精密度良好。同时还考察了空白基质加标，回收率在80.2~104.8%之间。方法准确可靠，可用于实际样品的检测。