太阳能电池基底材料的结构对于整个电池的性能起着至关重要的作用，本文通过XPS以及氩离子深度剖析技术对太阳能电池氧化钼缓冲层结构进行表征，分别给出了元素化学状态及随深度变化的材料结构信息。

电子仪器和IC 芯片的接触部分多会使用金（Au）、镍（Ni）、铜（Cu）的3 层电镀。通过荧光X 射线分析，能够非破坏性地测定上述电镀的附着量（膜厚）。本文将为大家介绍不使用标准样品，使用薄膜 FP 法（基本参数法）对Au、Ni、Cu 的各镀膜进行简便定量分析的实例。

本文介绍了一个运用Xslicer SMX-6000微焦点X射线检查装置的X射线透视及CT对UMD2二极管的实例观察。针对侧立后的UMD2二极管整体透视，再对二极管中的焊料部分气泡放大观察。最后介绍了运用CT观察UMD2二极管的内部气泡和绑定线，展示了3D效果图。