X射线光电子能谱（XPS）是一种在距离对样品表面约10 nm的深度范围内，进行元素定性、定量以及分析化学结合状态的表面分析方法。XPS是一种有效的材料表面分析方法，广泛应用于半导体和电池材料等材料的研发领域。另一方面，由于XPS无法检测出氢，因此需要分析表面上的羟基时，仅使用XPS可能难以完成评价。例如，表面的羟基对硅晶圆镜面之间的键合会产生很大影响1)。由于XPS难以明确判别硅的氧化物和氢氧化物，因此同时使用其他科可评价氢含量的表面分析方法，从多角度评价样品可以说是很重要的。 反射式电子能量损失谱（REELS）作为一种可分析化学状态和电子结构的表面分析方法而备受瞩目。其可以实现XPS难以检测

使用气相色谱－质谱联用法，采用EI源，使用保留指数检索对玫瑰精油中的未知成分进行定性分析。

本文参考标准T/CBMF 100-2021《石膏及石膏制品化学分析方法 电感耦合等离子体原子发射光谱法》，采用湿法消解石膏及石膏制品样品，利用岛津电感耦合等离子体发射光谱仪ICPE-9820测定了样品中多种氧化物的含量。分析结果表明，各元素的方法检出限为0.12~21 mg/kg；仪器精密度优良，RSD值小于2.00%（n=3）；样品加标回收率为94.4%-107%。该方法灵敏度高，重复性良好，适用于石膏及石膏制品中氧化物含量的批量测定。