X射线光电子能谱（XPS）是一种在距离对样品表面约10 nm的深度范围内，进行元素定性、定量以及分析化学结合状态的表面分析方法。XPS是一种有效的材料表面分析方法，广泛应用于半导体和电池材料等材料的研发领域。另一方面，由于XPS无法检测出氢，因此需要分析表面上的羟基时，仅使用XPS可能难以完成评价。例如，表面的羟基对硅晶圆镜面之间的键合会产生很大影响1)。由于XPS难以明确判别硅的氧化物和氢氧化物，因此同时使用其他科可评价氢含量的表面分析方法，从多角度评价样品可以说是很重要的。 反射式电子能量损失谱（REELS）作为一种可分析化学状态和电子结构的表面分析方法而备受瞩目。其可以实现XPS难以检测

美国药典（United States Pharmacopeia；USP）和日本药典（Japanese Pharmacopoeia；JP）等规定了各种项目的分析需要进行纯度试验和定量试验等，以确保药品的质量。即使规定使用HPLC进行分析，但在很多时候，其中收载的分析条件因分析目的不同而进行多项试验，并要使用多个HPLC条件分别进行分析。在本文中，关于“USP43-NF38”中收载的布洛芬的纯度试验（类似物质）和定量试验的分析方法，分析条件变化及其允许范围见USP General ChapterChromatography（在本文中称为USP），分析速度根据其作了提升。此外

采用微波消解样品前处理方法，使用岛津ICPMS-2030型电感耦合等离子体质谱仪测定了肠内营养乳剂（TP）中铬、钼和硒含量。实验结果表明，该方法具有分析速度快，操作简单，灵敏度高，检出限低(0.03~0.31 μg/kg)，精密度高（RSD≤1.30%），加标回收率在98~108%之间。该方法可适于肠内营养乳剂中铬、钼和硒含量测定。