近年来，在质量控制和研发方面，获得物质外表面的信息的需求不断增加，表面分析的重要性与日俱增。表面分析的方法有很多种，各种方法可分析的元素和分析深度存在差异，需要根据测定对象选择合适的方法。XPS（X射线光电子能谱分析法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）是一种测量固体表面受到软X射线照射时发射的光电子能量的表面分析方法，可进行物质表面元素的定性和定量分析、化学键状态分析。XPS的分析深度为自表面10nm左右，可以获得物质外表面的化学状态信息。本报告中为您介绍使用XPS分析光学晶体上薄膜键合状态的案例。同时，为您介绍不同的分析方法所带来的元素定性、定量结果的差异。

本文建立了全二维气相色谱质谱联用法(GC×GC-qMS)检测白酒中邻苯二甲酸酯类塑化剂含量的方法。相对于传统GCMS方法，该方法的分离度更高，可以有效减少了基质对目标组分的干扰，提高了分析方法的准确度。

本文介绍了使用干法激光粒度仪SALD-2201分析西药粉末样品的方法。试验结果表明，该方法快速准确，重现性好，对医药行业快速分析药物样品具有重要意义。