近年来，在质量控制和研发方面，获得物质外表面的信息的需求不断增加，表面分析的重要性与日俱增。表面分析的方法有很多种，各种方法可分析的元素和分析深度存在差异，需要根据测定对象选择合适的方法。XPS（X射线光电子能谱分析法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）是一种测量固体表面受到软X射线照射时发射的光电子能量的表面分析方法，可进行物质表面元素的定性和定量分析、化学键状态分析。XPS的分析深度为自表面10nm左右，可以获得物质外表面的化学状态信息。本报告中为您介绍使用XPS分析光学晶体上薄膜键合状态的案例。同时，为您介绍不同的分析方法所带来的元素定性、定量结果的差异。

本文向您介绍使用岛津电子万能试验机AGS-X 10KN 进行轮胎用钢帘线试样拉伸试验的示例。该示例只要用于对轮胎用钢帘线的力学强度进行力学测试，满足标准《GB/T 11181-2016 子午线轮胎用钢帘线》、《GB T 33159-2016 钢帘线实验方法》，配合岛津专用5KN 气动线材缠绕夹具，可为相关企业的产品开发、品质控制提供精确数据。

本文利用岛津Nexis GC-2030气相色谱仪，建立了药用辅料聚山梨酯80中环氧乙烷、二氧六环、氯乙醇、乙二醇、二甘醇、三甘醇6种杂质的测定方法。在5~100 μg/mL浓度范围内线性关系良好，相关系数均大于0.999。5 μg/mL标液连续进样6针，峰面积比RSD%均小于3 %。加标回收率在88.1~110.8 %之间。该方法准确、可靠，可以应用于药用辅料聚山梨酯80中环氧乙烷、二氧六环、氯乙醇、乙二醇、二甘醇、三甘醇的检测。