近年来，在质量控制和研发方面，获得物质外表面的信息的需求不断增加，表面分析的重要性与日俱增。表面分析的方法有很多种，各种方法可分析的元素和分析深度存在差异，需要根据测定对象选择合适的方法。XPS（X射线光电子能谱分析法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）是一种测量固体表面受到软X射线照射时发射的光电子能量的表面分析方法，可进行物质表面元素的定性和定量分析、化学键状态分析。XPS的分析深度为自表面10nm左右，可以获得物质外表面的化学状态信息。本报告中为您介绍使用XPS分析光学晶体上薄膜键合状态的案例。同时，为您介绍不同的分析方法所带来的元素定性、定量结果的差异。

通过对跌落分离失效音圈组件的微区分析，确认了振膜球顶上残留的异物形貌特征、元素种类及含量，对于判断异物源从而采取措施避免再次出现失效具有指导意义。微区异物分析结果显示，岛津电子探针EPMA-1720对于低含量元素及轻元素都具有很好的检出性。

本文采用在线凝胶色谱-气质联用仪（GPC-GCMS）测定烟丝中香兰素含量的方法。在0.05~10 mg/L浓度范围内，相关系数为0.9993。以3倍信噪比计算检出限为6.75?g/kg，各组分峰面积RSD为4.77%（n=5），样品加标平均回收率为83.53%。该方法操作简单便捷，分析速度快，适合检测烟丝中香兰素。