本文将炉渣标准样品用玻璃熔片法制样，使用岛津MXF-N3 Plus多道同时X射线荧光光谱仪测量元素荧光X射线强度，建立SiO2、TFe、MgO、MnO、Al2O3、CaO、TiO2、P2O5、S、Na2O等主次组分的校准曲线，实现对炉渣中主次组分的X射线荧光光谱分析。用此方法分析炉渣样品，分析结果与化学值在允许误差范围内，能满足此类样品分析的需要。

为了增加光学元件的通光量，通常会在其表面镀上一层或多层折射率较低的薄膜，以消除元件表面的反射光，所镀的膜叫增透膜或减反膜。该类光学元件要求具有很低的反射率，对于测量仪器的测量精度要求非常高。本文使用UV3600对该类样品进行测试，实验结果表明，使用岛津UV3600可以快速有效测定该类样品的超低反射率，并且可以获得满意的实验结果。

本文介绍了一个运用inspeXio SMX-100CT观察双面胶带的实例。不仅可以从体积上观察双面胶带的分层结构，还可以测量粘合剂层的厚度，以及使用分析软件进行体积测量和评估粘合剂中所含颗粒。该软件可以评估每个颗粒的体积，并且体积结果由颜色指示和进行统计评估。