本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪，采用玻璃熔片制样方法，测定了硅石中主要杂质元素。结果表明，Fe2O3、Al2O3、CaO、K2O、Na2O、MnO、TiO2等主要杂质元素标准曲线线性良好，相关系数r均在0.99以上。平行10次测定各组分RSD在10.0%以下，满足工业硅生产对硅石主要杂质成分的检测要求。

为了应对人口激增带来的食品需求高涨，目前世界上使用着大量的农药。虽然农药可以确保食品供应更加稳定，但也存在残留农药引起健康风险的问题。为此，各地区、各国均规定了食品中农药的最大残留标准值（MRLs），进行着严格限制。三重四极杆质谱仪可获得高选择性、高灵敏度的定量结果，目前被广泛用于分析食品中的残留农药。但是，该方法无法检测出未作为目标的化合物，单次可测定的组分数有限，因此在用作筛选用途时，综合性存在限制。在此背景下，分析残留农药时使用高分辨率质谱仪，利用全扫描分析进行综合性测定的方法备受关注。本文介绍了一种利用四极杆飞行时间质谱仪LCMS-9030分析草莓中残留农药的方法。

紫外可见分光光度计在很多领域的定量和定性方面得到广泛的应用，本文使用UV-1900型紫外可见分光光度计测定了水样中六价铬含量，同时使用透反式光纤探头做了对比试验，实验结果表明UV-1900主机直接测试检出限0. 08 μg/L（光程10 mm），使用光纤探头方式检出限0. 04 μg/L（光程20 mm），且光纤探头测试结果与UV-1900主机结果基本一致。