本文介绍了一个运用SMX-6000微焦点X射线检查装置的X射线透视及CT对碳化硅MOSFET的实例观察。针对碳化硅MOSFET进行透视，观察发现内部碳化硅晶片和铜基体的焊料部分有白色气泡。侧立时发现是使用铝线和碳化硅晶片进行连接。针对透视图中碳化硅晶片焊接部分使用CT扫描，能够清晰观察出内部气泡，并进行测量。

锂电池负极是电池储存锂的主体，在充放电过程中负极表面枝晶的形成会对电池带来安全隐患。本文通过XPS成像结合团簇离子枪对铜负极表面微晶组织及元素分布进行了分析，结果表明Li元素主要存在于电极表面，电极上的结晶物质鉴定为高氯酸锂。

本文使用岛津三重四极杆液质联用仪测定氯沙坦钾中叠氮类杂质AZBT的含量。在0.15~50 ng/mL浓度范围内线性关系良好，相关系数大于0.99，检出限为0.006 ng/mL，定量限为0.018 ng/mL。0.15 ng/mL标准品溶液连续进样6针，AZBT的保留时间及峰面积的RSD为0.084%和1.15%。三个浓度水平的加标回收率为87.56~98.61%。该方法灵敏度高，重复性好，能够有效的测定氯沙坦钾中叠氮类杂质AZBT的含量。