随着电子技术的飞速发展，对安装在产品中的电子零部件提出了小型化和更高功能性的要求。其中，“晶体单元”和“晶体振荡器”之类的晶体元器件对产品的精确动作来说是不可或缺的。本文介绍了使用微焦X射线CT系统inspeXio™ SMX™-225CT FPD HR Plus（图1）对晶体振荡器的内部结构进行观察的事例。

层析是化合物剖析中常用到的一种分离技术，而红外光谱分析被广泛应用在化合物剖析分析中。本文介绍了使用红外光谱仪和单次衰减全反射附件，快速测定层析馏分的红外光谱图。

采用乙醇溶解原料药后，使用电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）有机进样系统测试了某原料药中元素杂质含量。该方法操作简单，分析速度快，灵敏度高，可以对多元素含量进行同时测定。各元素0.3、1倍限值浓度加标回收率在82.9~109%之间，满足70~150%的回收率要求，各元素限值浓度加标样品连续6次测定结果RSD小于3.4%。