本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定多晶硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各杂质组分分析精度良好。方法适用于多晶硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足多晶硅生产对杂质成分的检测需求。

使用LCMS-IT-TOF对食品中的未知添加色素进行分析，根据其多级质谱数据进行结构分析，确定添加的未知色素为一种偶氮类染料。

本文参考2020版《中国药典》，建立了采用微波消解处理样品，使用岛津ICPMS-2030系列电感耦合等离子体质谱仪测定中链甘油三酸脂中Cr、Cu、Pb、Ni、Sn杂质元素含量的方法。实验结果表明，该方法各元素标准曲线线性良好（r＞0.9997），限值浓度加标回收率在98.0%~103.0%之间，测定结果准确，满足测试需求，适用于中链甘油三酸脂中杂质元素含量的测定。