XPS（X 射线光电子能谱法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）作为一种表面分析方法，除了对材料表面上约10 nm 处存在的元素进行定性和定量分析外，还可以分析元素的化学结合状态。该方法因为用软X 射线照射样品，观测在物质内部产生的光电子，因此，被称为非破坏性分析。然而，一些物质可能因为被X 射线照射而受到损伤，表面化学状态会发生改变，进一步导致无法从受损的材料表面得到反映其本来状态的正确数据。因此，了解测试过程中样品受到的损伤非常重要。在这里，我们将为您介绍改变X 射线的照射功率，对同一试样进行测定，评估对试样所造成影响的事例。

本文利用岛津Py-Screener系统建立了电子电气产品中20种PBBs和PBDEs的快速筛查方法。以浓度为100 mg/kg的标准品连续进样6针，峰面积RSD均小于7.62%，精密度良好。该方法适用于电子电气产品中20种溴类阻燃剂的快速筛查。

本文参照BJS 202201《食品补充检验方法 食品中爱德万甜的测定》，建立了食品中爱德万甜含量测定的方法。在优化后的色谱及质谱条件下，采用正离子模式扫描，通过多反应监测模式对目标化合物进行测定。结果表明：爱德万甜在0.5 ~ 250 ng/mL的范围内线性良好，所得校准曲线相关系数在0.9993以上，各校准点准确度在93.29%~105.88%之间，保留时间和峰面积的相对标准偏差分别在0.02%和3.24%以内，加标回收率在89.4%~109.8%之间。