本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定多晶硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各杂质组分分析精度良好。方法适用于多晶硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足多晶硅生产对杂质成分的检测需求。

酱油经湿法消解成澄清溶液，通过Chelex-100螯合树脂分离后，直接用电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)测定其中有害元素铅和镉含量。本文对离子交换分离条件进行了研究，选择了Pb2+和Cd2+与大量钠的分离条件，即在pH值5～6时，Chelex-100选择性地吸附Pb2+和Cd2+，而Na+不被吸附。通过优化仪器的工作条件下，不使用基体匹配，得到0.031%的RSD值(n=6)，回收率在94.0～106%范围内。定量下限可达到20 μg/L。方法能很好满足食品质量检验要求，适合质检行业的应用。_x005f

微塑料内部及表面含有多种有毒有害化合物，例如多氯联苯（PCBs）、多溴联苯（PBBs）、多环芳烃（PAHs）、邻苯二甲酸脂（PAEs）及有机氯农药（OCPs）等，这些化合物可以被海洋生物摄入并通过食物链富集进入人体。本研究使用丙酮对微塑料样品进行溶解，对于不可溶部分样品，使用PY-GCMS筛查其中典型有机污染物；对于可溶部分样品，使用GC-MS/MS筛查其中典型有机污染物。方法简单高效，可以快速对微塑料中典型有机污染物进行定性筛查。