随着新型光源的不断产生，光源的光谱分辨率在测量中变得日益重要，而光源的光色特性及其表征量如色坐标、色温和显色指数等是由光源的光谱能量分布决定的，所以需要更好地了解光源的光谱分布特性。一般的光源是不同波长的色光混合而成的复色光，如果将它的光谱中每种色光的强度用分光光度计测量出来，就可以获得不同波长色光的辐射强度的数值。本文介绍使用紫外可见分光光度计测量光源相对光谱能量分布的方法。

参考GB 2749-2003、NY 5143-2002等相关标准，使用AA-6880测定了皮蛋蛋白和蛋黄中Cu、Zn、Pb、Cd、Cr和As这6种元素的含量。实验表明该方法所得各元素标准曲线线性关系良好，检出限低，回收率高，适合皮蛋蛋白和蛋黄中6种元素含量的测定。

本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪，采用玻璃熔片法制样，建立了测定工业硅生产用碳质材料中杂质元素的方法。碳质材料经灼烧除碳，杂质元素会富集至灰分中，称量一定量的灰分与专用熔剂按一定比例混合，高温熔融制备成玻璃片，用X荧光光谱仪进行测定。碳质材料的灰分与粘土化学成分类似，以粘土标样为基础建立工作曲线，工作曲线线性良好，相关系数r在0.9999以上，此方法可以准确测定碳质材料杂质元素化学成分，满足工业硅生产对碳质材料杂质成分的检测要求。