X射线光电子能谱（XPS）分析结合平行成像技术可以有效对材料表面缺陷处进行微区分析，本文选取了半导体材料的“金手指”及缺陷区域进行测量，获得了较理想的测试效果。

气相色谱法是利用色谱柱内固定相的种类不同和升温对样品进行吸附和脱附的原理来将样品进行分离。分析结束后，需要将柱温降低到初始温度，但降温速度可能会对色谱柱的固定相造成影响。到目前为止，为缩短分析周期，通常是优先考虑在短时间内降低柱温，而NexisTM GC-2030（以下简称Nexis GC-2030）新增加了自由选择柱温的降温速度的功能。通过选择最佳降温速度，可以使色谱柱的使用寿命最大化。本文我们使用Nexis GC-2030 的降温程序，比较了不同的降温速度下的基线噪音与各峰的 S/N 值，并将在下文中进行介绍。

使用LCMS-IT-TOF对食品中的未知添加色素进行分析，根据其多级质谱数据进行结构分析，确定添加的未知色素为一种偶氮类染料。