使用岛津超高效液相色谱-三重四极杆质谱仪LCMS-8050建立了蔬菜基质中331种农药及其代谢物同时测定的方法。使用基质加标样品进行了方法的线性及精密度的考察。结果显示该方法线性范围宽，标准曲线相关系数均大于0.995，方法准确度及精密度均可满足日常检验需求。该方法完全满足国标GB 23200.121-2021《植物源性食品中331种农药及其代谢物残留量的测定 液相色谱-质谱联用法》，供相关人员参考。

本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定多晶硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各杂质组分分析精度良好。方法适用于多晶硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足多晶硅生产对杂质成分的检测需求。

岩石中所含的矿物记录了岩石形成过程中的物理和化学信息。EPMA可用于研究此类成岩矿物的确切化学组成和元素的二维分布。在这里，使用电子探针显微分析仪EPMA™（EPMA-8050G）对云仙火山熔岩中的斜长石进行了元素面分析。结果显示，可以在斜长石边缘发现微细的结构。这些切片样品由东京大学研究院理学研究科-地球与行星科学系的理学院技术部技术长吉田英人先生提供。