首页 / 行业应用 / 教育/科研 / 光学元件上微小异物的测定–采用红外显微镜AIM-9000 进行扫描和识别
光学元件上微小异物的测定–采用红外显微镜AIM-9000 进行扫描和识别
2017.02.06类型: 应用报告浏览:14
岛津公司的异物自动分析系统(红外显微镜)AIM-9000 采用将微小部分作为测定目标的光学设计,可以在短时间内获得微米级异物的清晰光谱。本文向您介绍使用本系统对光学元件表面附着的约10μm微小异物进行测定的示例。
相关推荐
联系岛津
产品询价 电话咨询 授权代理商 在线客服
本网站中关于产品性能、功能等信息的表述及对比范围,仅限于岛津自产和岛津合作的产品
订阅最新资讯
关注我们
扫描关注,获取最新资讯
岛津中国
医疗器械