IC卡有两种类型，包括信用卡和ETC卡中使用的接触式卡以及IC卡乘车卡中使用的非接触式卡，广泛应用于金融、交通、服务等各种行业。IC（集成电路）通过用金属线连接晶体管等元件制造而成。随着小型化的发展，布线的宽度和厚度已减小到数百纳米，而布线长度最长可达数百米以上。若这些线路发生断线或接触故障，则IC无法工作。此外，封装基板时若出现裂纹等，则会导致发生故障。因此，评估材料本身的可靠性和结构，研讨制造工艺非常重要。本文介绍了使用电子探针显微分析仪EPMA™（EPMA-8050G）对接触式IC卡的截面以及IC芯片的布线图进行元素面分析分析的示例。

为了增加光学元件的通光量，通常会在其表面镀上一层或多层折射率较低的薄膜，以消除元件表面的反射光，所镀的膜叫增透膜或减反膜。该类光学元件要求具有很低的反射率，对于测量仪器的测量精度要求非常高。本文使用UV3600对该类样品进行测试，实验结果表明，使用岛津UV3600可以快速有效测定该类样品的超低反射率，并且可以获得满意的实验结果。

本文使用液相色谱-离子阱飞行时间串联质谱(LCMS-IT-TOF)对抗菌药物呋喃妥因及杂质进行定性分析。样品主成分是呋喃妥因，分子式是C8H6N4O5，化学名1-[[(5-硝基-2-呋喃基)亚甲基]氨基]-2,4-咪唑烷二酮。根据主成分和相应杂质峰的多级质谱裂解规律及合成反应步骤推导出目标杂质峰分子式为C10H8N4O7，并进一步推测了其结构。