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可实现8K高像素观察!兼顾广域观察和高精细分析
2021.08.24类型: 应用报告浏览:26
扫描探针显微镜[SPM(AFM)]作为可以在大气中对纳米线进行高分辨率观察的工具,被广泛应用于纳米颗粒和软材料等领域。近年来,兼具特殊宏观结构和微观结构的材料问世,需要同时对两种结构进行观察。但传统的SPM广域观察存在像素数不足的问题,无法在图像放大时进行高精细分析。本文介绍了使用可实现8K高像素观察的SPM-Nanoa,同时兼顾广域观察和高精细分析的案例。
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