近年来，在质量控制和研发方面，获得物质外表面的信息的需求不断增加，表面分析的重要性与日俱增。表面分析的方法有很多种，各种方法可分析的元素和分析深度存在差异，需要根据测定对象选择合适的方法。XPS（X射线光电子能谱分析法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）是一种测量固体表面受到软X射线照射时发射的光电子能量的表面分析方法，可进行物质表面元素的定性和定量分析、化学键状态分析。XPS的分析深度为自表面10nm左右，可以获得物质外表面的化学状态信息。本报告中为您介绍使用XPS分析光学晶体上薄膜键合状态的案例。同时，为您介绍不同的分析方法所带来的元素定性、定量结果的差异。

室内空气中的挥发性有机化合物（VOCs）主要来源于涂料和家庭用品挥发出的污染物质，也有从外部入侵的情况1)。VOCs会对人体造成严重的健康危害，例如眼睛和鼻子的炎症、肝脏和中枢神经系统受损1）。室内是人们长期活动的区域，因此，对室内空气中的VOCs进行监测非常重要。室内空气中的VOCs可以使用热脱附GC-MS（TD-GCMS）进行分析。国际标准化组织（ISO）16000-6-2011中使用TD-GCMS对VOCs进行检测，定量方法为全扫描（SCAN）或选择离子监测（SIM）。但是SIM只能用于定量，无法对未知组分定性，而SCAN的灵敏度相对较差。理想的方法是利用SIM做定量同时使用SCAN做定

本文利用岛津GC-2010 Plus气相色谱仪，建立了小麦粉中过氧化苯甲酰含量测定方法。该方法在1~20 ?g/mL浓度范围内标准曲线线性关系良好，相关系数r为0.9999，且面积重复性良好，RSD为1.83%，检出限为0.134 μg/mL（3倍信噪比），加标回收率平均值为85%~90%。该方法操作简单，可用于小麦粉中过氧化苯甲酰含量的测定。