岛津公司的异物自动分析系统（红外显微镜）AIM-9000 采用将微小部分作为测定目标的光学设计，可以在短时间内获得微米级异物的清晰光谱。本文向您介绍使用本系统对光学元件表面附着的约10μm微小异物进行测定的示例。

本文应用基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪（MALDI-TOF）对金属配合物进行分析，采用反-2-[3-(4-叔丁基苯基)-2-甲基-2-亚丙烯基]丙二腈（DCTB）基质，在正离子模式下进行数据采集，结果显示，在m/z 1-2000范围内成功检测到样品的[M+H]+单一同位素峰及其同位素峰，各同位素峰分布良好。结果表明MALDI-TOF适用于金属配合物的分子量表征，分析过程具有无需样品前处理、分析速度快、分析成本低的特点。

本文参考GB/T 10810.3-2006《眼镜镜片及相关产品 第3部分透射比规范及测量方法》、GB/T 10810.4-2006《眼镜镜片 第4部分减反射膜规范及测量方法》和GB/T 10810.5-2006《眼镜镜片 第5部分镜片表面耐磨性要求》，使用岛津紫外可见分光光度计测定了镀膜眼镜镜片可见区透射比、反射比和雾度。